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      低溫撓卷試驗裝置
      導體斷面積100mm2以下之試料在本機內冷卻1小時后,立即以均勻之速度卷繞于規定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料,則先行卷繞,再冷卻相同之時間后,立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料,檢視其表面是否產生龜裂、裂痕。

      型號:HK-DWZZ-01

      時間:2024-03-20

      訪問量:5618

      Update time:[2012-02-07]
      特色 參數 配件

      一,低溫撓卷試驗裝置標準:JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE

      二,說明:

      導體斷面積100mm2以下之試料在本機內冷卻1小時后,立即以均勻之速度卷繞于規定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料,則先行卷繞,再冷卻相同之時間后,立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料,檢視其表面是否產生龜裂、裂痕。

      三,技術參數:

      溫度

      Temp.

      冷卻方式

      Cooling method

      降溫速度

      Cooling speed

      精度

      Accuracy

      材質

      Material

      圓桿

      Rod

      內箱

      Test chamber

      線套

      體積

      Dimension

      (W×D×H)

      重量

      Weight

      電源

      Power

      -40~+130℃

      氣冷式

      Air Frozen

      常溫

      Room temp. ~-40℃,

      60min

      ±2℃

      內外箱,

      SUS304#

      Φ4.0~37.5mm,共12支

      45×50×50cm

      Φ3.5/6/

      10/12/

      16mm

      各2只

      100×80×135cm

      262kg

      1

      AC 220V 30A

       

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